Máy kiểm tra thành phần điện tử X-ray Nikon XT V 160 NF (Mã đặt hàng: 3100)

THÔNG SỐ KỸ THUẬT

Xem Catalog tại đây

• kV tối đa: 160 kV
• Công suất chùm electron tối đa: 20 W
• Nguồn tia X: Đèn phát tia X mở
• Kích thước tiêu điểm: 1 μm
• Tính năng nhận dạng khuyết tật: 500 nm
• Độ phóng đại hình học: 2046x
• Độ phóng đại hệ thống: lên đến 36000x
• Hệ thống hình ảnh: 
  • Varex 2520DX (2.85 Mpixel, 16 bit) Flatpanel
  • Varex 1515DX (1.3 Mpixel, 16 bit) Flatpanel
• Điều khiển: 5 trục (X, Y, Z, T, R)
• Trục quay: Bao gồm
• Độ nghiêng: 0-72°
• Thể tích đo lường:
  • Hình vuông lớn nhất trong một bản đồ 406 x 406 mm (16 x 16")
  • Kích thước mẫu vật lý tối đa 711 x 762 mm (28 x 30")
• Trọng lượng mẫu tối đa: 5 kg (11 lbs)
• Màn hình: IPS 4k đơn ( 3840 x 2160 pixels)
• Kích thước cabin (R x S x C): 1200 x 1786 x 1916 mm (48 x 71.3 x 75.4")
• Trọng lượng: 2100 kg (4629 lbs)
• An toàn bức xạ: <1 μSv/giờ ở bề mặt cabin
• Kiểm soát: Phần mềm kiểm soát và phân tích kiểm tra tia X
• Tự động kiểm tra: Bao gồm
• Chụp cắt lớp vi tính/X quang: Tùy chọn
• Ứng dụng chính: Kiểm tra điện tử và chất bán dẫn thời gian thực và tự động, phân tích lỗi